智能光譜分析儀是在平時的光通信波分復用產(chǎn)品中較常使用到的儀表，其主要特點是動態(tài)范圍大，靈敏度好，分辨率帶寬??；比較適合于測試光信噪比。另外測量波長范圍大，一般在600-1700nm，但是測試波長精度時卻不如多波長計準確。

　　在光譜的測量、各參考點通路信號光功率、各參考點光信噪比、光放大器各個波長的增益系數(shù)和增益平坦度的測試都可以使用智能光譜分析儀。智能光譜分析儀現(xiàn)在也集成了WDM的分析軟件，可以很方便地把WDM的各個波長的中心頻率、功率、光信噪比等參數(shù)用菜單的方式顯示出來。

　　智能光譜分析儀的屏幕顯示測量條件、標記值、其它數(shù)據(jù)以及測量波形。屏幕各部分的名稱顯示參數(shù)如下：

　　1.光譜譜寬的測量

　　即光譜的帶寬，使用光譜分析儀可以測量LD、發(fā)光二極管的譜寬。在光譜的譜寬測量時，要特別注意光譜分析儀系統(tǒng)分辨率的選擇，即原理上光譜分析儀的分辨率應當小于被測信號譜寬的1/10，一般推薦設置為至少小于被測信號譜寬的1/5。

　　實際的測量中，為了能夠準確測量數(shù)據(jù)，一般選擇分辨率帶寬為0.1nm以下。分辨率帶寬RES位于SETUP菜單中的首項，直接輸入所要設定的分辨率帶寬的大小即可。當選擇的分辨率帶寬不同時，從光譜分析儀觀察到的光譜形狀有很大的不同，并且所測量得到的譜寬大小的不同。

　　在觀察光譜譜寬的同時，也可以通過光譜分析儀讀出光譜的中心頻率、帶寬、峰值功率和邊模抑制比等參數(shù)。同時可以啟動菜單，進行相應的標識，以方便量取所需要測試的參數(shù)值。

　　2.邊模抑制比的測量

　　邊模抑制比（SMSR）表示峰值能級與橫模能級之間的能級差值。一般測量邊模抑制比時，需要配合使用MARKER菜單和ANALYSIS菜單中相應的鍵。用MARKER菜單對主波峰值和z高的副波峰進行標識，讀取兩者的峰值功率值。邊模抑制比為z高峰與次高峰之間的能級差?？梢酝ㄟ^ANALYSIS菜單中相應的子選項計算得到后的值。

　　3.增益的測量

　　在進行OA板或光放大器模塊測試的時候，需要測試增益參數(shù)（Gain）。增益定義為輸出信號功率outP與輸入信號功率inP之比。

　　在多波的情況下，還可以測試增益平坦度和增益斜率。其中，增益平坦度為增益的大值和小值之間的差值；增益斜率為兩個波長在光放大器工作在兩個增益狀態(tài)變化值的比值。增益斜率主要用來衡量光放大器的不同波長增益的相對變化值，增益斜率越小，說明光放大器增益變化時各波長的一致性越好，越容易實現(xiàn)各波長的增益均衡。

　　應用智能光譜分析儀進行增益斜率的測量時，需要假設光放大器工作在兩種增益狀態(tài)，然后分別在不同的波長點下進行增益點的測量，記錄各波長點測試得到的增益值，可以計算出增益斜率。

　　4.噪聲系數(shù)的測量

　　光譜分析儀的一項重要功能是測量EDFA的等效噪聲噪聲系數(shù)（NF），簡稱噪聲系數(shù)。

　　利用光譜分析儀進行NF的測量時，需要用到TRACE菜單和ANALYSIS菜單。首先將輸入光纖放大器的輸入光設置為可寫狀態(tài)，點擊writeA，然后固定該軌跡Fix A；再將從光纖放大器輸出的光的光譜設置為可寫狀態(tài)，點擊writeB，然后固定該軌跡Fix B；之后再按ANALYSIS菜單中選擇EDFA NF子選項，即可得到光譜分析儀計算NF的結(jié)果。